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1、 特種設備無損檢測技術 培訓考核習題集 二0一二年三月 說 明 《特種設備無損檢測技術培訓考核習題集》是在《鍋爐壓力容器無損檢測新編教材配套習題集》基礎上改寫而成的。改寫過程中糾正了書中的一些錯誤外，還增加了材料、焊接、熱處理等基礎知識的題目。 編寫本習題集的主要依據是《射線檢測》、《超聲波檢測》、《磁粉檢測》、《滲透檢測》、《特種設備無損檢測相關知識》五本教材，編寫時還參考了全國考委會《鍋爐壓力容器無損檢

2、測人員考試習題集》、江蘇省《無損檢測習題集》以及部分美國ASNT習題。 本書主要編寫人：強天鵬、施健。 無損檢測知識部分的習題集的排列編號與教材的章節(jié)對應。RT和UT部分的計算題按難易程度和實用性分為四個等級。Ⅰ級資格人員應掌握*級題，理解或了解**級題；Ⅱ級資格人員應掌握**級以下題，理解或了解***級題；Ⅲ級資格人員應掌握***級以下題，理解或了解****級題。建議在理論考試中，計算題部分“掌握”的等級題占75%左右，“理解”或“了解”的等級題占25%左右。其它題型則未分級，學員可參考鍋爐壓力容器無損檢測人員資格考核大綱中“掌握”、“理解”和“了解”的要求來確定對有關習題的熟練程度。

3、 材料、焊接、熱處理知識部分的習題選用了是非和選擇題兩種題型，主要是考慮這兩種題型有利于學員對基礎概念的掌握。 歡迎讀者對書中的缺點錯誤批評指正。 2012年3月南京 目 錄 說明 第一部分 射線檢測 一、是非題 是非題答案 二、選擇題 選擇題答案 三、問答題 問答題答案 第二部分 第三部分 第四部分 第五部分 材料 熱處理 焊接

4、 449 第一部分 射線檢測 共： 803題 其中： 是非題 301題 選擇題 284題 問答題 118題 計算題 100題

5、 一、 是非題 1.1 原子序數(shù)Z等于原子核中的質子數(shù)量。 （ √） 1.2 為了使原子呈中性，原子核中的質子數(shù)必須等于核外的電子數(shù)。 （ √） 1.3 當原子核內的中子數(shù)改變時，它就會變?yōu)榱硪环N元素。 （） 1.4 當一個原子增加一個質子時，仍可保持元素的種類不變。 （ ） 1.5 原子序數(shù)相同而原子量不同的元素，我們稱它為同位素。

6、 （√ ） 1.6 不穩(wěn)定同位素在衰變過程中，始終要輻射γ射線。 （） 1.7 不同種類的同位素，放射性活度大的總是比放射性活度小的具有更高的輻射劑量。 （ ） 1.8 放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量變?yōu)樵瓉淼囊话胨枰臅r間。 強度 （ ） 1.9 各種γ射線源產生的射線均是單能輻射。 （ ） 1.10 α射線和β射線雖然有很強的穿透能力，但由于對人體輻射傷害太大，所以一般不用 于工業(yè)探傷。

7、 （ ） 111 將元素放在核反應堆中受過量中子轟擊，從而變成人造放射性同位素，這一過程稱為 “激活”。 （ √ ） 1.12 與其他放射性同位素不同，Cs137是原子裂變的產物，在常溫下呈液態(tài)，使用前須防止泄漏污染。 （ √ ） 1.13 與Ir19

8、2相比，Se75放射性同位素的半衰期更短，因此其衰變常數(shù)λ也更小一些。（ ） 1.14 射線能量越高，傳播速度越快，例如γ射線比Χ射線傳播快。 （ ） 1.15 Χ射線或γ射線強度越高，其能量就越大。 （ ） 1.16 Χ射線或γ射線是以光速傳播的微小的物質粒子。 （） 1.17 當χ射

9、線經過2個半價層后，其能量僅僅剩下最初的1/4。 強度 （ ） 1.18 如果母材的密度比缺陷的密度大一倍，而母材的原子序數(shù)比缺陷的原子序數(shù)小一半時，缺陷在底片上所成的象是白斑。 （ ） 1.19 標識Χ射線具有高能量，那是由于高速電子同靶原子核相碰撞的結果。 （ ） 1.20 連續(xù)Χ射線是高速電子同靶原子的軌道電子相碰撞的結果。 （ ） 1.21 Χ射線的波長與管電壓有關。

10、 （ √ ） 1.22 Χ射線機產生Χ射線的效率比較高，大約有95%的電能轉化為Χ射線的能量。 （ ） 1.23 一種同位素相當與多少千伏或兆伏能力的Χ射線機來做相同的工作，這種關系叫做同位素的當量能。 （ √ ） 1.24 同能量的γ射線和Χ射線具有完全相同的性質。 （ √ ） 1.25 Χ射線的強度不僅取決于Χ射線機的管電流而且還取決于Χ射線機的管電壓。（ √

11、） 1.26 與C060相對，CS137發(fā)出的γ射線能量較低，半衰期較短。 33年 （ ） 1.27 光電效應中光子被完全吸收，而康普頓效應中光子未被完全吸收。 （ √ ） 1.28 一能量為300KeV的光子與原子相互作用，使一軌道電子脫離50KeV結合能的軌道， 且具有50KeV動能飛出，則新光子的能量是200KeV。 （ √ ） 1.2

12、9 光電效應的發(fā)生幾率隨原子序數(shù)的增大而增加。 （ √ ） 1.30 光電子又稱為反沖電子。 （ ） 1.31 隨著入射光子能量的增大，光電吸收系數(shù)迅速減少，康普頓衰減系數(shù)逐漸增大。（ ） 1.32 當射線能量在1.02MeV至10MeV區(qū)間，與物質相互作用的主要形式是電子對效應。（ ） 1.

13、33 連續(xù)Χ射線穿透物質后，強度減弱，線質不變。 （ ） 1.34 射線通過材料后，其強度的9/10被吸收，該厚度即稱作1/10價層。 （ √ ） 1.35 當射線穿過三個半價層后，其強度僅剩下最初的1/8。 （ √ ） 1.36 連續(xù)Χ射線的有效能量是指穿透物質后，未被物質吸收的能量。所以穿透厚度越大，有效能量越小。 （ ） 1.37 CO60和Ir192射線

14、源是穩(wěn)定的同位素在核反應堆中俘獲中子而得到的，當射線源經過幾個半衰期后，將其放在核反應堆中激活，可重復使用。 （ ） 1.38 Χ射線和γ射線都是電磁輻射，而中子射線不是電磁輻射。 （ √ ） 1.39 放射性同位素的當量能總是高于起平均能。 （ √ ） 1.40 Χ射線與可見光本質上的區(qū)別僅僅是振動頻率不同。 （ √ ） 1.41 高速電子與靶原子的軌道電子相撞發(fā)出Χ射線，這一過程稱作韌致輻射。 （ ）

15、 1.42 連續(xù)Χ射線的能量與管電壓有關，與管電流無關。 （ √ ） 1.43 連續(xù)Χ射線的強度與管電流有關，與管電壓無關。 （ ） 1.44 標識Χ射線的能量與管電壓、管電流均無關，僅取決于靶材料。 （ √ ） 1.45 Χ射線與γ射線的基本區(qū)別是后者具有高能量，可以穿透較厚物質。 （ ） 1.46 采取一定措施可以使射線照射范圍限制在一個小區(qū)域，這樣的射線稱為窄束射線。（ ） 1.47 對鋼、鋁、銅等金屬材料來說，射線的質量吸收系數(shù)值

16、總是小于線吸收系數(shù)值。（ √ ） 1.48 原子核的穩(wěn)定性與核內中子數(shù)有關，核內中子數(shù)越小，核就越穩(wěn)定。 （ ） 1.49 經過一次β-衰變，元素的原子序數(shù)Z增加1，而經過一次α衰變，元數(shù)的原子序數(shù)Z將減少2。 （ √ ） 1.50 放射性同位素衰變常數(shù)越小，意味著該同位素半衰期越長。 （ √ ） 1.51 在管電壓、管電流不變的前提下，將Χ射線管的靶材料由鉬改為鎢，所發(fā)生的射線強 度會增大。

17、 （ ） 1.52 在工業(yè)射線探傷中，使膠片感光的主要是連續(xù)譜Χ射線，標識譜Χ射線不起什么作用。（ √ ） 1.53 Ir192射線與物質相互作用，肯定不會發(fā)生電子對效應。 （ √ ） 1.54 高能Χ射線與物質相互作用的主要形式之一是瑞利散射。 （ ） 1.55 連續(xù)Χ射線穿透物質后，強度減弱，平均波長變短。 （ √ ） 1.56 不包括散射成分的射線束稱為窄射線束

18、。（ √ ） 1.57 單一波長電磁波組成的射線稱為“單色”射線，又稱為單能輻射。（ √ ） 1.58 α射線和β射線一般不用于工業(yè)無損檢測，是因為這兩種射線對人體輻射傷害太大。（ ） 1.59 原子由一個原子核和若干個核外電子組成。（ √ ） 1.60 原子核的核外電子帶正電荷，在原子核周圍高速運動。（ ） 1.61 原子序數(shù)Z=核外電子數(shù)=質子數(shù)=核電荷數(shù)。（ √ ） 1.62 原子量=質子數(shù)+中子數(shù)。（ √ ） 1.63 中子數(shù)=相對原子質量(原子量)-質子數(shù)=相對原子質量(原子量)-原子序數(shù)Z。（ √ ） 1.64 不穩(wěn)定的同位素又稱放射

19、性同位素，Z≥83的許多元素及其化合物具有放射性。（ √ ） 1.65 目前射線檢測所用的同位素均為人工放射性同位素。（ √ ） 1.66 Χ射線譜中波長連續(xù)變化的部分，稱為連續(xù)譜。（ √ ） 1.67 康普頓效應的發(fā)生幾率大致與光子能量成正比，與物質原子序數(shù)成反比。（ ） 1.68 瑞利散射是相干散射的一種。（ √ ） 1.69 只有入射光子能量＞1.02MeV時，才能發(fā)生電子對效應。（ √ ） 1.70 光電效應和電子對效應引起的吸收有利于提高照相對比度。（ √ ） 1.71 康普頓效應產生的散射線會降低照相對比度。（ √ ） 1.72 射線

20、照相法適宜各種熔化焊接方法的對接接頭和鋼板、鋼管的檢測。（ ） 2.1 Χ光管的有效焦點總是小于實際焦點。 （ √ ） 2.2 Χ射線機中的焦點尺寸,應盡可能大,這樣發(fā)射的Χ射線能量大,同時也可防止靶過分受熱。() 2.3 Χ射線管中電子的速度越小，則所發(fā)生的射線能量也就越小。 （ √ ） 2.4 由于Χ射線機的電壓峰值（KVP）容易使人誤解，所以Χ射線機所發(fā)出的射線

21、能量用電壓的平均值表示。 （ ） 2.5 全波整流Χ射線機所產生射線的平均能比半波整流Χ射線機所產生的平均能高。（ √ ） 2.6 移動式Χ射線機只能室內小范圍移動，不能到野外作業(yè)。 （ √ ） 2.7 移動式Χ射線機有油冷和氣冷兩種絕緣介質冷卻方式。 （ ） 2.8 相同千伏值的金屬陶瓷管和玻璃管，前者體積和尺寸小于后者。 （ √ ） 2.9 “變頻”是減小Χ

22、射線機重量的有效措施之一。 （ √ ） 2.10 放射性同位素的比活度越大，其輻射強度也就越大。 （ ） 2.11 適宜探測厚度100mm以上鋼試件γ源的是Co60，適宜探測厚度20mm以下鋼試件的γ源是Ir192。 Se75 （） 2.12 黑度定義為阻光率的常用對數(shù)值。 （ √ ） 2.13 底片黑度D=1，即意味著透射光強為入射光強的十分之一。 （ √ ） 2.14

23、 ISO感光度100的膠片，達到凈黑度2.0所需的曝光量為100戈瑞。 （ ） 2.15 能量較低的射線較更容易被膠片吸收，引起感光，因此，射線透照時防止散射線十分重要。（ √ ） 2.16 用來說明管電壓、管電流和穿透厚度關系曲線稱為膠片特性曲線。 （ ） 2.17 膠片達到一定黑度所需的照射量（即倫琴數(shù)）與射線質無關。 （ ） 2.18 同一膠片對不同能量的射線具有不同的感光度。

24、 （ √ ） 2.19 比活度越小， 即意味著該放射性同位素源的尺寸可以做得更小。 （ ） 2.20 膠片灰霧度包括片基年固有密度和化學灰霧密度兩部分。 （ √ ） 2.21 非增感型膠片反差系數(shù)隨黑度的增加而增大，而增感型膠片反差系數(shù)隨黑度增加的增大而減小。 （ ） 2.22 在常用的100KV-400KVΧ射線能量范圍內，鉛箔增感屏的增感系數(shù)隨其厚度的增大而減小。（ √ ）

25、 2.23 對Χ射線。增感系數(shù)隨射線能量的增高而增大。但對γ射線來說則不是這樣，例如， 鉆60的增感系數(shù)比銥192低。 （ √ ） 2.24 對Χ射線機進行“訓練”的目的是為了排出絕緣油中的氣泡。 （ ） 2.25 Χ和γ射線的本質是相同的，但γ射線來自同位素，而Χ射線來自于一個以高壓加速電子的裝置。

26、 （ √ ） 2.26 在任何情況下，同位素都優(yōu)于Χ射線設備，這是由于使用它能得到更高的對比度和清晰度。（ ） 2.27 對于某一同位素放射源，其活度越大，則所發(fā)出的射線強度也越大。 （ √ ） 2.28 將一張含有針孔的鉛板放于Χ射線管和膠片之間的中間位置上，可以用來測量中心射線的強度。（ ） 2.29 相同標稱千伏值和

27、毫安值的Χ射線機所產生的射線強度和能量必定相同。 （ ） 2.30 所謂“管電流”就是流過Χ射線管燈絲的電流。 （） 2.31 放射源的比活度越大，其半衰期就月短。 （ ） 2.32 膠片對比度與射線能量有關，射線能量越高，膠片對比度越小。 （ ） 2.33 膠片特性曲線的斜率用來度量膠片的對比度。 （ √ ） 2.34 從實際應用的角度來說，射線的能量對膠片特性曲線形狀基本上不產生影響。（

28、 √ ） 2.35 寬容度大的膠片其對比度必然低。 （ √ ） 2.36 顯影時間延長，將會使特性曲線變陡，且在坐標上的位置向左移。 （ √ ） 2.37 膠片特性曲線在坐標上的位置向左移，意味著膠片感光速度越小。 （ ） 2.38 與一般膠片不同，Χ射線膠片雙面涂布感光乳劑層，其目的是為了增加感光速度和黑度。（√） 2.39 “潛

29、象”是指在沒有強光燈的條件下不能看到的影象。 （ ） 2.40 嵌增感屏除有增感作用外，還有減少散射線的作用，因此在射線能穿透的前提下，應盡量選用較厚的鉛屏。 （ ） 2.41 透照不銹鋼焊縫，可以使用碳金屬絲象質計。 （ √ ） 2.42 透照鈦焊縫，必須使用鈦金屬絲象質計。 （ √ ） 2.43 透照鎳基合金焊縫時使用碳素鋼象質計，如果

30、底片上顯示的線徑編號剛剛達到標準規(guī)定值，則該底片的實際靈敏度肯定達不到標準規(guī)定的要求。 （ ） 2.44 因為鉛箔增感屏的增感系數(shù)高于熒光增感屏，所以得到廣泛使用。 （ ） 2.45 膠片鹵化銀粒度就是顯影后底片的顆粒度。 （ ） 2.46 梯噪比高的膠片成像質量好。 （ √ ） 2.47 膠片系統(tǒng)分類的主要依據是膠片感光速度和梯噪比。 （ ） 2.48 直通道

31、型γ射線機比“S”通道型γ射線機的機體輕，體積也小。（ √ ） 2.49 鋪設γ射線機輸源管時應注意彎曲半徑不得過小，否則會導致其變形或折斷。（ ） 2.50 像質計一般擺放在射線透照區(qū)內顯示靈敏度較低部位。（ √ ） 2.51 管道爬行器是一種裝在爬行裝置上的Χ射線機。（ √ ） 2.52 Χ射線機在同樣電流、電壓條件下，恒頻機的穿透能力最強。（ √ ） 2.53 Χ射線管的陰極是產生Χ射線的部分。（ ） 2.54 Χ射線管的陽極是由陽極靶、陽極體、陽極罩三部分構成。（ √ ） 2.55 一般陽極體采用導熱率大的無氧銅制成。（ √ ） 2.56 攜帶式Χ射

32、線機的散熱形式多采用輻射散熱式。（ √ ） 2.57 Χ射線管的陽極特性就是Χ射線管的管電壓與管電流的關系。（ √ ） 2.58 Χ射線機采用陽極接地方式的自整流電路，對高壓變壓器的絕緣性能要求較高。（ √ ） 2.59 Χ射線機的燈絲變壓器是一個降壓變壓器。（ √ ） 2.60 γ射線機的屏蔽容器一般用貧化鈾材料制成，其體積、重量比鉛屏蔽體要小許多。（ √ ） 2.61 在換γ射線源的操作過程中，必須使用γ射線計量儀表及音響報警儀進行檢測。（ √ ） 2.62 射線膠片由片基、結合層、感光乳劑層、保護層組成。（ √ ） 2.63 膠片感光后，產生眼睛看不見的影像叫

33、“潛影”。（ √ ） 2.64 射線膠片的感光特性可在曝光曲線上定量表示。（ ） 2.65 射線底片上產生一定黑度所用曝光量的倒數(shù)定義為感光度。（ √ ） 2.66 未經曝光的膠片，經暗室處理后產生的一定黑度稱為本底灰霧度。（ √ ） 2.67 膠片對不同曝光量在底片上顯示不同黑度差的固有能力稱為梯度。（ √ ） 2.68 膠片有效黑度范圍相對應的曝光范圍稱為寬容度。（ √ ） 2.69 膠片的特性指標只與膠片有關，與增感屏和沖洗條件無關。（ ） 2.70 黑度計和光學密度計是兩種不同類型的測量儀器。（ ） 2.71 使用金屬增感屏所得到的底片像質最佳，其

34、增感系數(shù)也最小。（ √ ） 2.72 增感系數(shù)Q是指不用增感屏的曝光量Eo與使用增感屏時的曝光量E之間的比值，即：Q=Eo/E (√) 2.73 金屬增感屏具有增感效應和吸收效應兩個基本效應。（ √ ） 2.74 由于增感系數(shù)高，熒光增感屏多用于承壓設備的焊縫射線照相。（ ） 2.75 像質計是用來檢查和定量評價射線底片影像質量的工具。（ √ ） 2.76 像質計通常用與被檢工件材質相同或對射線吸收性能相似的材料制作。（ √ ） 3.1 影象顆粒度完全取決于膠片乳劑層中鹵化銀微粒尺寸的大小。 （ ） 3.2 象質計靈敏度1.5%

35、，就意味著尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被檢出。 （ ） 3.3 使用較低能量的射線可得到較高的主因對比度。 （ √ ） 3.4 射線照相時，若千伏值提高，將會使膠片對比度降低。 （ ） 3.5 一般對厚度差較大的工件，應使用較高能量射線透照，其目的是降低對比度，增大寬容度。（ √ ） 3.6 增大曝光量可提高主因對比度。

36、 （ ） 3.7 當射線的有效量增加到大約250KV以上時，就會對底片顆粒度產生明顯影響。 （ √ ） 3.8 增大最小可見對比度△Dmin，有助于識別小缺陷。 （ ） 3.9 射線照相主因對比度與入射線的能譜有關，與強度無關。 （ √ ） 3.10 用增大射源到膠片距離的辦法可降低射線照相固有不清晰度。 （ ） 3.11 減小幾何不清晰度的途徑之一，就是使膠片盡可能地靠

37、近工件。 （ √ ） 3.12 利用陽極側射線照相所得到的底片的幾何不清晰度比陰極側好。 （ √ ） 3.13 膠片的顆粒越粗，則引起的幾何不清晰度就越大。 （ ） 3.14 使用γ射線源可以消除幾何不清晰度。 （ ） 3.15 增加源到膠片的距離可以減小幾何不清晰度，但同時會引起固有不清晰度增大。 （ ） 3.16 膠片成象的顆粒性會隨著射線能量的提高而變差。

38、 （ √ ） 3.17 對比度、清晰度、顆粒度是決定射線照相靈敏度的三個主要因數(shù)。 （ √ ） 3.18 膠片對比度和主因對比度均與工件厚度變化引起的黑度差有關。 （ ） 3.19 使用較低能量的射線可提高主因對比度，但同時會降低膠片對比度。 （ ） 3.20 膠片的顆粒度越大，固有不清晰度也就越大。 （ ） 3.21 顯影不足或過度，會影響底片對比度，但不會影響顆粒度。 （ ） 3.22 實

39、際上由射線能量引起的不清晰度和顆粒度是同一效應的不同名稱。 （ ） 3.23 當缺陷尺寸大大小于幾何不清晰度尺寸時，影象對比度會受照相幾何條件的影響。（ √ ） 3.24 可以采取增大焦距的辦法使尺寸較大的源的照相幾何不清晰度與尺寸較小的源完全一樣。（ √ ） 3.25 如果信噪比不夠，即使增大膠片襯度，也不可能識別更小的細節(jié)影像。 （ √ ） 3.26 散射線只影響主因對比度，不影響膠片對比度。

40、 （ √ ） 3.27 底片黑度只影響膠片對比度，與主因對比度無關。 （ √ ） 3.28 射線的能量同時影響照相的對比度、清晰度和顆粒度。 （ √ ） 3.29 透照有余高的焊縫時，所選擇的“最佳黑度”就是指是能保證焊縫部位和母材部位得到相同角質計靈敏度顯示的黑度值。 （ √ ） 3.30 由于最小可見對比度△Dmin隨黑度的增大而增大，所以底片黑度過大會對缺陷識別產生不利的影響。

41、 （ √ ） 3.31 底片黑度只影響對比度，不影響清晰度。 （ √ ） 3.32 試驗證明，平板試件照相，底片最佳黑度值大約在2.5左右。 （ √ ） 3.33 固有不清晰度是由于使溴化銀感光的電子在乳劑層中有一定穿越行程而造成的。（ √ ） 3.34 底片能夠記錄的影象細節(jié)的最小尺寸取決于顆粒度。 （ √ ） 3.

42、35 對有余高的焊縫照相，應盡量選擇較低能量的射線，以保證焊縫區(qū)域有較高的對比度。（ ） 3.36 對比度修正系數(shù)σ值與缺陷的截面形狀有關，例如裂紋的截面形狀與象質計金屬絲不同，兩者的σ值也不同。 （ √ ） 3.37 由于底片上影象信噪比隨曝光量的增加而增大，所以增加曝光量有利于缺陷影象識別。（ √ ）

43、 3.38 射線照相的信噪比與膠片梯噪比具有不同含義。 （ √ ） 3.39 射線照相固有不清晰度與增感屏種類無關。（ ） 3.40 焦點至工件表面的距離是影響幾何不清晰度的原因之一。（ √ ） 3.41 膠片對比度與顯影條件有關。（ √ ） 3.42 一般情況下，膠片感光速度越高，射線照相影像的顆粒性就越不明顯。（ ） 3.43 焦點尺寸的大小與幾何不清晰度沒有關系。（ ） 3.44 增感屏與膠片未貼緊會增大固有不清晰度。（ √ ） 3.45 衰

44、減系數(shù)只與射線能量有關，與試件材質無關。（ ） 3.46 幾何不清晰度與焦點尺寸和工件厚度成正比，與焦點至工件表面的距離成反比。（ √ ） 3.47 射線照相固有不清晰度可采用鉑-鎢雙絲像質劑測定。（ √ ） 3.48 顆粒性是指均勻曝光的射線底片上影像黑度分布不均勻的視覺印象。（ √ ） 4.1 按照“高靈敏度法”的要求，300KVX射線可透照鋼的最大厚度大約是40mm。 （ √ ） 4.2 γ射線照相的優(yōu)點是射線源尺寸小，且對厚度工作照相曝光時間短。 （ ） 4.3 選擇較小的射線源尺寸dr，或者增大焦

45、距值F，都可以使照相Ug值減小。（ √ ） 4.4 欲提高球罐內壁表面的小裂紋檢出率，采用源在外的透照方式比源在外的透照方式好。（ √ ） 4.5 環(huán)焊縫的各種透照方式中，以源在內中心透照周向曝光法為最佳方式。 （ √ ） 4.6 無論采用哪一種透照方式，一次透照長度都隨著焦距的增大而增大。 （ ） 4.7 所謂“最佳焦距”是指照相幾何不清晰度Ug與固有不清晰度Ui相等時的焦距值。（ √ ） 4.8

46、已知銅的等效系數(shù)Ψ銅=1.5，則透照同樣厚度的鋼和銅時，后者的管電壓應為前者的1.5倍。（ ） 4.9 對有余高的焊縫進行透照，熱影響區(qū)部位的散射比要比焊縫中心部位大得多。 （ ） 4.10 源在內透照時，搭接標記必須放在射源側。 （ ） 4.11 背散射線的存在，會影響底片的對比度。通常可在工件和膠片之間放置一個嵌字B來驗證背散射線是否存在。

47、 （ ） 4.12 不論采用何種透照布置，為防止漏檢，搭接標記均應放在射線源側。 （ ） 4.13 由于“互易定律實效”采用熒光增感屏時，根據曝光因子公式選擇透照參數(shù)可能會產生較大誤差。 （ √ ） 4.14 當被透工件厚度差較大時，就會有“邊蝕散射”發(fā)生。 （ √ ） 4.15 在源和工件之間放置濾板來減少散射線的措施對γ射線并不適用。 （

48、√ ） 4.16 使用“濾板”可增大照相寬容度，但濾板最好是放在工件和膠片之間。 （ ） 4.17 在源和工件之間放置濾板減少散射線的措施對于平板工件照相并不適用。 （ √ ） 4.18 在實際工作中正常使用的焦距范圍內，可以認為焦距對散射比沒有影響。 （ √ ） 4.19 采用平靶周向Χ射線機對環(huán)焊縫作內透中心法周向曝光時，有利于檢出橫向裂紋，但不利于檢出縱向裂紋。 （ √ ） 4.20 采用源在外單壁透照方式，如K值不變，則焦距越大，一次透照

49、長度L3越大。 （ √ ） 4.21 采用雙壁單影法透照時，如保持K值不變，則焦距越大，一次透照長度L3就越小。（ √ ） 4.22 用單壁法透照環(huán)焊縫時，所用搭接標記均應放在射源側工件表面，以免端部缺陷漏檢（ ）。 4.23 對某一曝光曲線，應使用同一類型的膠片，但可更換不同的Χ射線機。 （ ） 4.24 使用γ射線曝光曲線時，首先應知道射線源在給定時間的活度。 （ √ ） 4.25 如果已知

50、等效系數(shù)，用Χ射線曝光曲線來代替γ射線曝光曲線，也可能求出曝光參數(shù)。（ ） 4.26 小徑管射線照相采用垂直透照法比傾斜透照法更有利于檢出根部未熔合。 （ √ ） 4.27 增大透照厚度寬容度最常用的辦法是適當提高射線能量。 （ √ ） 4.28 對尺寸很小的缺陷，其影象的對比度不僅與射線能量有關，而且與焦距有關。（ √ ） 4.29 材料的種類影響散射比，例如給定能量的射線在鋼中的散射比要比在鋁中大得多。（ ） 4.30 在常規(guī)射線照相檢驗中，散射線是無法避免的。

51、 （ √ ） 4.31 環(huán)縫雙壁單影照相，搭接標記應放在膠片側，底片的有效評定長度是底片上兩搭接標記之間的長度。 （ √ ） 4.32 縱焊縫雙壁單影照相，搭接標記應放在膠片側，底片的有效評定長度就是兩搭接標記之間的長。 （ ） 4.33 小徑管雙壁透照的要點是選用較高管電壓，較低曝光量，其目的是減小底片反差，擴大檢出區(qū)域。

52、 （ √ ） 4.34 射線照相實際透照時很少采用標準允許的最小焦距值。 （ √ ） 4.35 雙片疊加觀察是雙膠片技術中的同速雙片法經常采用的一種底片觀察方法。（ ） 4.36 選擇射線源的首要因素是其對被檢工件應具有足夠的穿透力。（ √ ） 4.37 球罐γ射線全景曝光時，其曝光時間通過生產廠家提供的“專用計算尺”可以精確計算出來。（ ） 4.38 在滿足幾何不清晰度的前提下，為提高工效和影像質量，環(huán)形焊縫應盡量選用圓錐靶周向X射線機作內透中心法周向

53、曝光。（ √ ） 4.39 從射線照相靈敏度角度考慮：在保證穿透力的前提下，應盡量選擇能力較低的X射線。（ √ ） 4.40 選擇能量較低的X射線可以獲得較高的對比度和寬容度。（ ） 4.41 提高管電壓是提高工效和靈敏度的有效方法之一。（ ） 4.42 底片黑度可以通過改變曝光量來控制。（ √ ） 4.43 平方反比定律表示輻射強度與距離平方成反比。（ √ ） 4.44 對于散射源來說，往往最大的散射源來自于試件本身。（ √ ） 4.45 對厚度差較大的工件，散射比隨射線能量的增大而增大。（ ） 4.46 使用鉛鉑增感屏對減少散射線幾乎不起作用。（ ）

54、 4.47 鉛鉑增感屏的鉛鉑厚度越大，其增感效率越大。（ ） 4.48 在小徑管透照中，影像各處的幾何不清晰度都是一致的。（ ） 5.1 顯影十膠片上的AgBr被還原成金屬銀，從而使膠片變黑。 （ √ ） 5.2 對曝光不足的底片，可采用增加顯影時間或提高顯影溫度的方法來增加底片黑度，從而獲得符合要求的底片。 （ ） 5.3 膠片在顯影液中顯影時，如果不進行任何攪動，則膠片上每一部位都會影響緊靠在它們下方部位的顯影。

55、 （ √ ） 5.4 定影液有兩個作用，溶解未曝光的AgBr和堅膜作用。 （ √ ） 5.5 所謂“通透時間”就是指膠片從放入定影液到乳劑層變?yōu)橥该鞯倪@段時間。 （ √ ） 5.6 減少底片上水跡的方法是溫膠片快速干燥。 （ ） 5.7 膠片表面起網狀皺紋可能是膠片處理溫度變化急劇而引起的。 （ √ ） 5.8 沖洗膠片時，只要使用安全燈，膠片

56、上就不會出現(xiàn)灰霧。 （ ） 5.9 顯影液中如果過量增加碳酸鈉，在底片上會產生反差降低的不良后果。 （ √ ） 5.10 使用被劃傷的鉛箔增感屏照相，底片上會出現(xiàn)與劃傷相應的清晰的黑線。 （ √ ） 5.11 膠片上靜電花紋的產生是由于射線管兩端的電壓過高的原因。 （ ） 5.12 射線底片上產生亮的月牙形痕跡的原因可能是曝光前使膠片彎曲。 （ √ ） 5.13 射線底片上產生黑的月牙形痕跡的原因可能是曝光后使膠片彎曲。 （ √

57、） 5.14 如果顯影時間過長，有些未曝光的AgBr也會被還原，從而增大了底片灰霧。（ √ ） 5.15 顯影液中氫離子濃度增大，則顯影速度減慢，故借助于堿使顯影液保持一定PH值。（ √ ） 5.16 定影液的氫離子濃度越高，定影能力就越強。 （ ） 5.17 膠片未曝光部分變?yōu)橥该鲿r，即說明定影過程已經完成。 （ ） 5.18 因為鐵不耐腐蝕且容易生銹，所以不能用鐵制容器盛放顯影液。 （ ） 5.19 溴化鉀除了抑制灰霧的作用外

58、，還有增大反差的作用。 （ ） 5.20 顯影時攪動不僅能夠使顯影速度加快，還有提高反差的作用。 （ √ ） 5.21 所謂“超加和性”是指米吐爾和菲尼酮配合使用，顯影速度大大提高的現(xiàn)象。（ ） 5.22 普通手工沖洗顯影液不能用于自動洗片機。（ √ ） 5.23 定影液老化會導致底片長期保存后出現(xiàn)泛黃的現(xiàn)象。（ √ ） 5.24 銅、鐵等金屬離子對顯影劑的氧化有催化作用。（ √ ） 5.25 水洗是膠片手工處理過程中重要步驟，水洗不充分的底片長期保存后會發(fā)生變色現(xiàn)象。（ √ ） 5.2

59、6 黑度、對比度、顆粒度是底片的主要質量指標。（ √ ） 5.27 米吐爾是顯影液中的重要成分，它不但易溶于水，也易溶于亞硫酸鈉溶液。（ ） 5.28 吐米爾和對苯二酚都是顯影劑，但吐米爾的顯影能力大大低于對苯二酚。（ ） 5.29 顯影液中的溴化鉀過量會大大抑制對苯二酚的顯影作用。（ √ ） 5.30 顯影液中保護劑的作用是阻止顯影劑不被氧化，延長顯影液的使用壽命。（ √ ） 5.31 顯影液中促進劑的作用是增強顯影劑的顯影能力和速度。（ √ ） 5.32 氫氧化鈉是顯影液中促進劑，但它是強堿，在使用中要注意安全。（ √ ） 5.33 顯影液中抑制劑的主要作

60、用是抑制灰霧。（ √ ） 5.34 在定影過程中，定影劑與鹵化銀和金屬銀都發(fā)生化學反應。（ ） 6.1 由于射線照相存在影象放大現(xiàn)象，所以底片評定時，缺陷定量應考慮放大的影響。 （ ） 6.2 各種熱裂紋只發(fā)生在焊縫上，不會發(fā)生在熱影響區(qū)。 （ ） 6.3 形狀缺陷不屬于無損檢測檢出范疇，但對于目視檢查無法進行的場合和部位，射線照相應對形狀缺陷，例如內凹、燒穿、咬邊等，評級。 （ √ ） 6.4 射線照相時，不同的投影角度會使工件上不同部位的特征點在底片上的相對位置改變。（ √ ）

61、 6.5 熔化焊焊接過程中的二次結晶僅僅發(fā)生在焊縫，與熱影響區(qū)無關。（ ） 7.1 暗室內的工作人員在沖洗膠片的過程中，會受到膠片上的衍生的射線照射，因而白血球也會降低。 （ X ） 7.2 一個射線工作者懷疑自己處在高輻射區(qū)域,驗證的最有效方法是看劑量筆上的讀數(shù)是否也增加。（ X ） 7.3 熱釋光膠片劑量計和袖珍劑量筆的工作原理均基于電離效應。

62、 （ X ） 7.4 照射量單位“倫琴”只使用Χ射線或γ射線，不能用于中子射線。 （ √ ） 7.5 當Χ或γ射源移去以后工件不再受輻射作用，但工件本身仍殘留極低的輻射。（X ） 7.6 即使劑量相同，不同種類輻射對人體傷害是不同的。 （ √ ） 7.7 小劑量，低劑量率輻射不會發(fā)生隨機性損害效應。 （ X ） 7.8 只要嚴格遵守輻射防護標準關于劑量當量限值的規(guī)定，就可以保證不發(fā)生輻射損傷。（ X ） 7

63、.9 從Χ射線機和γ射線的防護角度來說，可以認為1戈瑞=1希沃特。 （ √ ） 7.10 焦耳/千克是劑量當量單位，庫侖/千克是照射量單位。 （ √ ） 7.11 劑量當量的國際單位是希沃特，專用單位是雷姆，兩者的換算關系是1希沃特=100雷姆。（ √ ） 7.12 Χ射線比γ射線更容易被人體吸收，所以Χ射線對人體的傷害比γ射線大。 （ X ） 7.13 當照射量相同時，高能Χ射線比低能

64、Χ射線對人體的傷害力更大一些。 （ √ ） 7.14 輻射損傷的確定性效應不存在劑量閥值，它的發(fā)生幾率隨著劑量的增加而增加。 ( X ) 7.15 照射量適用于描述不帶電粒子與物質的相互作用，比釋動能適用于描述帶電粒子與物質的相互作用。 ( X ) 7.16 在輻射防護中，人體任一器官或組織被Χ和γ射線照射后的吸收劑量和當量劑量在數(shù)值上是相等的。( √ ) 7.17 吸收劑量的大小取決于電離輻射的能量，與被照射物體本身的性質無

65、關。 ( X ) 7.18 輻射源一定，當距離增加一倍時，其劑量或劑量率減少到原來的一半。 ( X ) 8.1 與電子回旋加速器相比，直線加速器能量更高，束流更大，焦點更小。 （ X ） 8.2 寬容度大是高能Χ射線照相的優(yōu)點之一。 （ √ ） 8.3 加速器照相一般選擇較大的焦距，其目的是減小幾何不清晰度，提高靈敏度。 （ X ） 8.4 中子幾乎不具有使膠片溴化銀感光的能力。 （ √ ）

66、 8.5 中子照相的應用之一是用來檢查航空材料蜂窩結構的粘接質量。 （ √ ） 8.6 中子對鋼鐵材料的穿透力很強，因此常用它來檢測厚度超過100mm的對接焊縫的焊接缺陷。 （ X ） 8.7 高能Χ射線照相的不清晰度主要是固有不清晰度，幾何不清晰度的影響幾乎可以忽略。 （ √ ） 8.8 射線實時成像檢驗系統(tǒng)的圖像容易得到較高的對比度，但不容易得到較好的清晰度。（ √ ）